설명
– IC/FPD Inspetion Microscope L300/L300D
– 12″ Wafer/LCD검사용 현미경
– 스테이지 이송거리: 354mm(X)x302mm(Y)
– 관찰모드: 명시야,암시야,편광,DIC,형광
– 배율: 10X~1500X
– L300(반사전용), L300D(투과/반사겸용)
– IC/FPD Inspetion Microscope L300/L300D
– 12″ Wafer/LCD검사용 현미경
– 스테이지 이송거리: 354mm(X)x302mm(Y)
– 관찰모드: 명시야,암시야,편광,DIC,형광
– 배율: 10X~1500X
– L300(반사전용), L300D(투과/반사겸용)
OPTION | L300, L300D |
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