[L300N/L300ND/L200N/L200ND] FPD/LSI Inspection Microscope

설명

– LSI Inspection Microscope L200N/L200ND

– 8″Wafer/Mask 검사용 현미경
– 스테이지이송거리: 205mmx205mm
– 관찰모드: 명시야,암시야,편광,DIC,형광
– 배율: 10X~1500X(배율전환장치:자동)
– 소프트웨어및 카메라장착 가능